محققان دانشگاه ياسوج با همكاري پژوهشگران دانماركي روش جديدي براي تصويربرداري سه بعدي نانوساختارها ابداع كردند اين روش مي تواند تصوير سه بعدي با تعيين دقيق مقدار و نحوه توزيع عمقي هر عنصر در نانوساختارها را تا عمق ۱۰ نانومتر ارائه دهد.
دكتر شاكر حاجتي، از محققان اين طرح، يكي از روش هاي مطالعه نانوساختارها را روش XPS دانست و گفت: در روش سنتي بر اساس تحليل شدت بيشينه پيك XPS اقدام به مطالعه و تعيين مشخصات نانو ساختارها مي شود كه خطاي زيادي را به همراه دارد.
حاجتي افزود: براي تعيين مشخصات نانوساختارها از روش كمي و دقيق تحليل همزمان شدت بيشينه قله و زمينه قله يا به عبارتي از تحليل شكل قله XPS استفاده كرديم كه اين روش كاستي هاي روش سنتي را ندارد.
وي همچنين يادآور شد: در تعيين كمي نانوساختارها خطاي زيادي در روش سنتي XPS وجود دارد و در عين حال تصويربرداري به كمك آن، فقط منجر به تصويري دو بعدي و كيفي مي شود بدون آنكه مقدار كمي و نحوه توزيع عمقي هر عنصر مشخص شود از اين رو در اين پروژه به كمك ARXPS روشي براي تصويربرداري سه بعدي ارايه كرديم.
عضو هيئت علمي دانشگاه ياسوج با تاكيد بر اينكه روش ارائه شده فقط براي نانوفيلم هاي بسيار مسطح كاربرد دارد، خاطر نشان كرد: مزيت اين روش آن است كه براي تمامي انواع مورفولوژي ها (ريخت شناسي) استفاده مي شود و مي تواند تصويري سه بعدي با تعيين دقيق مقدار و نحوه توزيع عمقي هر عنصر در نانوساختار سطحي را تا عمق حدود ۱۰ نانومتر ايجاد كند.
حاجتي با اشاره به جزئيات اجراي اين پژوهش، اضافه كرد: براي عينيت بخشيدن به نتايج اين تحقيقات در حال تهيه نرم افزاري كاربر پسند (User friendly) هستيم تا قابل عرضه در سطح تجاري باشد.
خبرگزارى مهر